浪涌沖擊抗擾度測試方法

　　　開關(guān)瞬態(tài)

　　系統(tǒng)開關(guān)瞬態(tài)與以下內(nèi)容有關(guān)：

　　a)主電源系統(tǒng)切換騷擾，例如電容器組的切換;

　　b)配電系統(tǒng)內(nèi)在儀器附近的輕微開關(guān)動作或者負(fù)荷變化;

　　c)與開關(guān)裝置有關(guān)的諧振電路，如晶閘管;

　　d)各種系統(tǒng)故障，例如對設(shè)備組接地系統(tǒng)的短路和電弧故障。

　　雷擊瞬態(tài)

　　雷電產(chǎn)生浪涌(沖擊)電壓的主要原理如下：

　　a)直接雷擊于外部電路(戶外)，注入的大電流流過接地電阻或外部電路阻抗而產(chǎn)生電壓;

　　b)在建筑物內(nèi)、外導(dǎo)體上產(chǎn)生感應(yīng)電壓和電流的間接雷擊(即云層之間或云層中的雷擊或擊于附近物體的雷擊，這種雷擊產(chǎn)生的磁場) ;

　　c)附近直接對地放電地雷電入地電流耦合到設(shè)備組接地系統(tǒng)的公共接地路徑。

　　當(dāng)保護(hù)裝置動作時(shí)，電壓和電流可能發(fā)生迅速變化，并可能耦合到內(nèi)部電路。

　　浪涌沖擊測試及相關(guān)要求

　　不同的電子、電氣產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)的要求是不同的，但這些標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)大多都直接或間接引用 GB/T17626.5-1999(idt IEC 61000-4-5:199)5：《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)》這一國家電磁兼容基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)，并按其中的試驗(yàn)方法進(jìn)行試驗(yàn)。下面就簡要介紹一下該標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容、試驗(yàn)方法及相關(guān)要求。

　　適用范圍：

　　適用于電氣和電子設(shè)備在規(guī)定的工作狀態(tài)下工作時(shí)，對由開關(guān)或雷電作用所產(chǎn)生的有一定危害電平的浪涌(沖擊)電壓的反應(yīng)。

　　該標(biāo)準(zhǔn)不對絕緣物耐高壓的能力進(jìn)行試驗(yàn)。該標(biāo)準(zhǔn)不考慮直擊雷。

　　試驗(yàn)內(nèi)容：

　　對電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號和控制端口在受到浪涌(沖擊)干擾時(shí)的性能進(jìn)行評定。

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　　評定設(shè)備在遭受到來自電力線和互連線上高能量浪涌(沖擊)騷擾時(shí)產(chǎn)品的性能。

　　試驗(yàn)發(fā)生器

　　a)信號發(fā)生器的特性應(yīng)盡可能地模擬開關(guān)瞬態(tài)和雷擊瞬態(tài)現(xiàn)象;

　　b)如果干擾源與受試設(shè)備的端口在同一線路中，例如在電源網(wǎng)絡(luò)中(直接耦合)，那么信號發(fā)生器在受試設(shè)備的端口能夠模擬一個(gè)低阻抗源;

　　c)如果干擾源與受試設(shè)備的端口不在同一線路中(間接耦合) ，那么信號發(fā)生器能夠模擬一個(gè)高阻抗源。

　　對于不同場合使用的產(chǎn)品及產(chǎn)品的不同端口，由于相應(yīng)的浪涌(沖擊)瞬態(tài)波形，各不相同，因此對應(yīng)的模擬信號發(fā)生器的參數(shù)也各不相同。

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