什么是高加速試驗？

　　高加速試驗分高加速壽命試驗(Highly Accelerated Life Test， 簡稱：“HALT”)和高加速應力篩選(Highly Accelerated Stress Screen， 簡稱“HASS”)，高加速試驗最早是美國軍方所延伸出來的設計質量驗證與制造質量驗證的試驗方法，現已成為美國電子業(yè)界的標準產品驗證方法;是幫助制造商在產品設計和加工階段盡快獲得高可靠性的兩大有力工具。

　　其中，HALT用以暴露與產品設計有關的早期失效故障，同時也用于提高產品在有效壽命期內抗隨機故障的壯實度;HASS應用于產品制造階段，幫助減少產品與制造工藝有關的早期失效率。

　　HALT采用對樣品系統(tǒng)地施加步進應力的方法，讓樣品承受逐步增加的環(huán)境應力(振動、溫度等)、附加應力(電源周期通斷、電壓拉偏和頻率拉偏等) 和工作應力來快速激發(fā)產品的設計缺陷，暴露設計薄弱環(huán)節(jié)，確定產品的工作極限和破壞極限，從而在短期內為產品改進設計提供信息。在應力步進施加過程中各量級應力可以大大超出技術規(guī)范極限。

　　HALT共分為5個主要步驟，即：低溫應力步進、高溫應力步進、高速溫度交變循環(huán)應力、隨機振動步進、溫度交變循環(huán)及振動綜合應力步進。HALT通過步進、交變應力方法，逐步將單一應力或組合應力施加到產品上，并留出足夠多的時間進行產品檢測以便于故障觀測。隨著試驗的逐步進行，會找出產品的*個故障。

　　隨著試驗的繼續(xù)進行，步進應力不斷增加或步驟的變化，將出現第二個故障，第三個故障，直至產品的功能完喪失，或試驗設備不能再繼續(xù)提供更高的應力值輸出，此時試驗結束，這一過程需要詳細的記錄產品發(fā)生變化的信息，以及出現的故障模式，包括發(fā)生的時間、對應的應力的條件、故障模式以及相關參數等信息，有些產品恢復到常溫或應力消除后仍正常工作，有些產品則不能正常工作，由此可以判斷，HALT試驗是一種破壞性試驗。

　　HALT和HASS試驗使用戶對產品建立了信譽，并對產品質量有一種期望。通過這些試驗技術能夠在很大程度上提高產品質量，增強產品競爭力。通過HALT增強了產品的健壯性，從而提高了產品的可靠性。

　　由于在生產試驗階段采用了HASS，所需總試驗時間減少了很多，從而能夠更快地打開產品市場。應用HALT&HASS試驗方法后，原需花費六個月至一年的新品可靠性試驗，現僅需一周時間即可完成，且在這一周中所發(fā)現的產品問題幾乎與客戶應用后所發(fā)現的問題一致，故該試驗方式已為新產品上市前所必需通過的考驗。

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